标准规范GB/T（推荐性）
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GB/T 41815.4-2026
信息技术 生物特征识别呈现攻击检测 第4部分：移动设备测试轮廓
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GB/T 42193.5-2026
道路车辆 车辆和外部设备之间排放相关诊断的通信 第5部分：排放相关诊断服务
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GB/T 42193.6-2026
道路车辆 车辆和外部设备之间排放相关诊断的通信 第6部分：诊断故障码定义
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GB/T 42411.2-2026
信息技术 学习、教育和培训 在线课程体系 第2部分：基础教育课程数据模型
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GB/T 42411.3-2026
信息技术 学习、教育和培训 在线课程体系 第3部分：高等教育课程数据模型
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GB/T 42411.5-2026
信息技术 学习、教育和培训 在线课程体系 第5部分：职业教育课程数据模型
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GB/T 42709.12-2026
半导体器件 微电子机械器件 第12部分：采用MEMS结构谐振法的薄膜材料弯曲疲劳试验方法
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GB/T 42709.21-2026
半导体器件 微电子机械器件 第21部分：MEMS薄膜材料泊松比测试方法
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GB/T 42709.22-2026
半导体器件 微电子机械器件 第22部分：柔性衬底导电薄膜机电拉伸测试方法
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GB/T 42709.29-2026
半导体器件 微电子机械器件 第29部分：室温下悬空导电薄膜的机电松弛试验方法
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GB/T 42709.35-2026
半导体器件 微电子机械器件 第35部分：柔性MEMS器件弯曲形变下的电特性测试方法
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GB/T 42709.36-2026
半导体器件 微电子机械器件 第 36 部分：MEMS 压电薄膜的环境及介电耐压试验方法
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GB/T 42709.38-2026
半导体器件 微电子机械器件 第38部分：MEMS互连中金属粉末膏体粘附强度测试方法
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GB/T 42709.40-2026
半导体器件 微电子机械器件 第40部分：MEMS惯性冲击开关阈值测试方法
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GB/T 42709.6-2026
半导体器件 微电子机械器件 第6部分：薄膜材料轴向疲劳试验方法
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GB/T 42709.8-2026
半导体器件 微电子机械器件 第8部分：带状薄膜拉伸特性测量的弯曲试验方法
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GB/T 43536.3-2026
三维集成电路 第3部分：硅通孔模型及测试方法
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GB/T 43789.33-2026
电子纸显示器件 第3-3部分：带集成照明单元显示器件的光学测试方法
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GB/T 44806.2-2026
集成电路 收发器的电磁兼容（EMC）评估 第2部分：局域互联网络（LIN）收发器
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GB/T 44806.3-2026
集成电路 收发器的电磁兼容（EMC）评估 第3部分：控制器局域网（CAN）收发器
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GB/T 44806.5-2026
集成电路 收发器的电磁兼容（EMC）评估 第5部分：以太网收发器
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GB/T 44807.4-2026
集成电路电磁兼容建模 第4部分：集成电路射频抗扰度特性仿真模型 传导抗扰度建模 (ICIM-CI)
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