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GB/T 48140-2026
汽车软件质量与缺陷管理规范
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GB/T 48163.1-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第1部分:基于振动的压电能量收集器
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GB/T 48163.2-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第2部分:基于热功率的热电能量收集器
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GB/T 48163.3-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第3部分:基于振动的电磁能量收集器
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GB/T 48163.5-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第5部分:测量柔性热电器件发电功率的测试方法
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GB/T 48163.8-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第8部分:低功耗电子产品中柔性和可拉伸超级电容器的测试和评估方法
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GB/T 48164.1-2026
半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第1部分:偏置温度不稳定性试验方法
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GB/T 48164.2-2026
半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第2部分:体二极管工作引起双极退化的试验方法
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GB/T 48168-2026
半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓(GaN)晶体管可靠性试验方法
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GB/T 48178-2026
集成电路电子设计自动化工具测试方法
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GB/T 48179-2026
集成电路电子设计自动化工具术语
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GB/T 48200-2026
信息技术 大数据 数据资产核心元数据
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GB/T 48203-2026
信息技术 使用统计模型的生物特征识别性能估计方法
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GB/T 48204-2026
信息技术 服务器及存储设备用液冷部件技术规范
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GB/T 48205-2026
核电厂仪表和控制系统核安全与网络安全协调要求
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GB/T 48209-2026
半导体器件封装用梯度材料外壳设计要求
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GB/T 48210-2026
电力系统北斗短报文业务数据编码基本要求
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GB/T 48216.1-2026
半导体器件 通用鉴定指南 第1部分:集成电路可靠性鉴定指南
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GB/T 48216.2-2026
半导体器件 通用鉴定指南 第2部分:可靠性鉴定中任务剖面的概念
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GB/T 48271-2026
船舶与海上技术 船载网络安全风险评估方法
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GB/T 48324-2026
人工智能 政务大模型系统技术要求
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GB/T 48336.101-2026
星闪无线通信系统 第101部分:架构和通用要求
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GB/T 48336.102-2026
星闪无线通信系统 第102部分:媒体接入层标识
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GB/T 48336.201-2026
星闪无线通信系统 第201部分:接入层 同步低时延宽带(SLB)空中接口技术要求
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