标准规范
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
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GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
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GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
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GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
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GB/T 14048.12-2025
低压开关设备和控制设备 第4-3部分：接触器和电动机起动器 非电动机负载用半导体控制器和半导体接触器
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替代关系：代替原 GB/T 14048.12-2016《低压开关设备和控制设备 第4-3部分：接触器和电动机起动器 非电动机负载用交流半导体控制器和接触器》
GB/T 14048.15-2006
低压开关设备和控制设备 第5-6部分：控制电路电器和开关元件-接近传感器和开关放大器的DC接口（NAMUR）
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GB/T 14048.6-2025
低压开关设备和控制设备 第4-2部分：接触器和电动机起动器 电动机用半导体控制器、起动器和软起动器
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替代关系：代替原 GB/T 14048.6-2016《低压开关设备和控制设备 第4-2部分：接触器和电动机起动器 交流电动机用半导体控制器和起动器（含软起动器）》
GB/T 14085-1993
信息处理系统 计算机系统配置图符号及约定
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GB/T 14112-2015
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
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替代关系：代替原 GB/T 14112-1993《半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范》
GB/T 14113-1993
半导体集成电路封装术语
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GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
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GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
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GB/T 14119-1993
半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范（可供认证用）
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GB/T 14140-2025
半导体晶片直径测试方法
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替代关系：代替原 GB/T 14140-2009《硅片直径测量方法》
GB/T 1417-1978
常用电信设备名词术语
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GB/T 1418-1995
电信设备通用文字符号
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GB/T 14245.1-2008
信息技术 汉字编码字符集（基本集） 64点阵字型 第1部分：宋体
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发布日期：2008-08-06实施日期：2009-07-01层级：国家标准分类：GB/T（推荐性） 0 浏览
GB/T 14245.2-2008
信息技术 汉字编码字符集（基本集） 64点阵字型 第2部分：黑体
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GB/T 14245.3-2008
信息技术 汉字编码字符集（基本集） 64点阵字型 第3部分：楷体
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GB/T 14245.4-2008
信息技术 汉字编码字符集（基本集） 64点阵字型 第4部分：仿宋体
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GB/T 14246.1-1993
信息技术 可移植操作系统界面 第一部分:系统应用程序界面（POSIX.1）
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GB/T 14257-2025
商品条码 条码符号放置要求
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替代关系：代替原 GB/T 14257-2009《商品条码 条码符号放置指南》
GB/T 14258-2003
信息技术 自动识别与数据采集技术 条码符号印制质量的检验
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发布日期：2003-11-24实施日期：2004-08-01层级：国家标准分类：GB/T（推荐性） 0 浏览
GB/T 14264-2024
半导体材料术语
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发布日期：2024-04-25实施日期：2024-11-01层级：国家标准分类：GB/T（推荐性） 0 浏览
替代关系：代替原 GB/T 14264-2009《半导体材料术语》
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