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搜索结果:GB/T 14140-2009(4 条)

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STD GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法 现行 层级:国家标准分类:GB/T(推荐性) 暂无电子版 资料悬赏
STD GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法 已作废 层级:国家标准分类:GB/T(推荐性) 暂无电子版 资料悬赏
STD GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法 已作废 层级:国家标准分类:GB/T(推荐性) 暂无电子版 资料悬赏
STD GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法 已作废 层级:国家标准分类:GB/T(推荐性) 暂无电子版 资料悬赏
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