搜索结果：GB/T 35-2013（1365 条）

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STD GB/T 35010.2-2018 半导体芯片产品第2部分：数据交换格式现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35010.1-2018 半导体芯片产品第1部分：采购和使用要求现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35011-2018 微波电路压控振荡器测试方法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品第3部分：操作、包装和贮存指南现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35007-2018 半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35006-2018 半导体集成电路电平转换器测试方法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35002-2018 微波电路频率源测试方法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35001-2018 微波电路噪声源测试方法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35926-2018 不透性石墨粘结作业技术规范已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35922-2018 不透性石墨浸渍耐蚀作业技术规范已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35832-2018 牙膏磨擦值检测方法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35861-2018 气体分析校准用混合气体使用过程中的一般质量保证指南已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35964-2018 证券及相关金融工具金融工具分类（CFI编码）已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35857-2018 斜行电梯制造与安装安全规范现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35847-2018 电致液晶贴膜调光玻璃现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 35846-2018 发光二极管照明用玻璃管现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

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