标准规范
GB/T 48073-2026
人工智能 深度学习框架功能要求
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GB/T 48091-2026
智慧城市服务体验感知评价通则 公共安全信息应用
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GB/T 48092-2026
国家网络身份认证公共服务 网络身份认证服务接口技术要求
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GB/T 48099-2026
半导体封装用带预制焊环盖板
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GB/T 48110-2026
人工智能 开源模型平台技术要求
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GB/T 48111-2026
交通信息采集 路侧毫米波雷达交通状态检测器
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GB/T 48118-2026
功率半导体模块用陶瓷覆铜板
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GB/T 48120-2026
精细陶瓷 室内照明环境下半导体光催化材料测试用LED光源
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GB/T 48140-2026
汽车软件质量与缺陷管理规范
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GB/T 48163.1-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第1部分：基于振动的压电能量收集器
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GB/T 48163.2-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第2部分：基于热功率的热电能量收集器
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GB/T 48163.3-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第3部分：基于振动的电磁能量收集器
即将实施
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GB/T 48163.5-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第5部分：测量柔性热电器件发电功率的测试方法
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GB/T 48163.8-2026
半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第8部分：低功耗电子产品中柔性和可拉伸超级电容器的测试和评估方法
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GB/T 48164.1-2026
半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第1部分：偏置温度不稳定性试验方法
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GB/T 48164.2-2026
半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法
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GB/T 48168-2026
半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法
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GB/T 48178-2026
集成电路电子设计自动化工具测试方法
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GB/T 48179-2026
集成电路电子设计自动化工具术语
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GB/T 48200-2026
信息技术 大数据 数据资产核心元数据
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GB/T 48203-2026
信息技术 使用统计模型的生物特征识别性能估计方法
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GB/T 48204-2026
信息技术 服务器及存储设备用液冷部件技术规范
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GB/T 48205-2026
核电厂仪表和控制系统核安全与网络安全协调要求
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GB/T 48209-2026
半导体器件封装用梯度材料外壳设计要求
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