标准规范GB（强制性）
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GB 6592-1986
电子测量仪器误差的一般规定
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GB 6595-1986
聚丙烯树脂鱼眼测试方法
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GB 6603-1986
工业用裂解碳四密度或相对密度的测定 压力浮计法
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GB 6608-1986
铝箔厚度的测定 称量法
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替代关系：被 GB/T 6608-1999《铝箔厚度的测定 称量法》代替
GB 6611-1986
钛及钛合金术语
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替代关系：被 GB/T 6611-2025《钛及钛合金术语和图谱》代替
GB 6613-1986
重要用途的TC4钛合金板材
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GB 6614-1986
钛及钛合金铸件
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GB 6616-1986
硅片电阻率的非接触式测试方法
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替代关系：被 GB/T 6616-2023《半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法》代替
GB 6617-1986
硅片电阻率的扩展电阻探针测试方法
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替代关系：被 GB/T 6617-2009《硅片电阻率测定 扩展电阻探针法》代替
GB 6618-1986
硅片厚度和总厚度变化的测试方法
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替代关系：被 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》代替
GB 6619-1986
硅片弯曲度的接触式测试方法
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替代关系：被 GB/T 6619-2009《硅片弯曲度测试方法》代替
GB 6620-1986
硅片翘曲度的非接触式测试方法
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替代关系：被 GB/T 6620-2009《硅片翘曲度非接触式测试方法》代替
GB 6621-1986
硅抛光片表面平整度的非接触式测试方法
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替代关系：被 GB/T 6621-2009《硅片表面平整度测试方法》代替
GB 6624-1986
硅抛光片表面质量目测检验方法
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替代关系：被 GB/T 6624-2009《硅抛光片表面质量目测检验方法》代替
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