标准规范GBT推荐性
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GB/T 24572.4-2009
火灾现场易燃液体残留物实验室提取方法 第4部分：固相微萃取法
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GB/T 24572.5-2013
火灾现场易燃液体残留物实验室提取方法 第5部分：吹扫捕集法
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GB/T 24573-2009
金库和档案室门耐火性能试验方法
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GB/T 24574-2009
硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
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GB/T 24575-2009
硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
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GB/T 24576-2009
高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
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GB/T 24577-2009
热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物
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GB/T 24578-2024
半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法
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替代关系：代替原 GB/T 24578-2015《硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法》
GB/T 24579-2009
酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
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GB/T 24580-2009
重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
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GB/T 24581-2022
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
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发布日期：2022-03-09实施日期：2022-10-01层级：国家标准分类：GBT推荐性 0 浏览
替代关系：代替原 GB/T 24581-2009《低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法》
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