标准规范GB/T（推荐性）
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GB/T 45578-2025
无损检测 声发射检测 压电声发射传感器接收灵敏度谱的验证
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GB/T 45579-2025
机器人智能化视觉评价方法及等级划分
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替代关系：代替原 GB/T 45579-2025《机器人智能化视觉评价方法及等级划分》E
GB/T 45615-2025
系统与软件工程 基于模型的系统与软件工程方法和工具
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GB/T 45620-2025
农资商品电子代码编码规则
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GB/T 45626-2025
信息技术 装备数字孪生系统 通用要求
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GB/T 45628-2025
人工智能 知识图谱 知识交换协议
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GB/T 45629.1-2025
信息技术 数据中心设备和基础设施 第1部分：通用概念
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GB/T 45629.2-2025
信息技术 数据中心设备和基础设施 第2部分：建筑结构
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GB/T 45630-2025
系统与软件工程 架构描述
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GB/T 45652-2025
网络安全技术 生成式人工智能预训练和优化训练数据安全规范
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GB/T 45654-2025
网络安全技术 生成式人工智能服务安全基本要求
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GB/T 45674-2025
网络安全技术 生成式人工智能数据标注安全规范
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GB/T 45716-2025
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验
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GB/T 45716.1-2026
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 第1部分：MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验
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GB/T 45717-2025
信息技术 软件测量 软件质量测量 自动化的源代码质量测度
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GB/T 45718-2025
半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿（TDDB）试验
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GB/T 45719-2025
半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
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GB/T 45720-2025
半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验
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GB/T 45721.1-2025
半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验
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GB/T 45722-2025
半导体器件 恒流电迁移试验
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GB/T 45727-2025
工业仪表智能化等级要求与评价方法
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GB/T 45728-2025
物联网 群智感知 技术架构
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GB/T 45751-2025
增材制造 工艺分类和编码
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GB/T 45762-2025
精细陶瓷 室内照明环境下半导体光催化材料测试用光源
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