GB/T（推荐性）

GB/T 14842-2007 铌及铌合金棒材现行免费

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GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14844-1993《半导体材料牌号表示方法》

GB/T 14845-2007 板式换热器用钛板现行免费

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GB/T 14846-2014 铝及铝合金挤压型材尺寸偏差现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14846-2008《铝及铝合金挤压型材尺寸偏差》

GB/T 14847-2025 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的测试红外反射法现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14847-2010《重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法》

GB/T 14848-2017 地下水质量标准现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14848-1993《地下水质量标准》

GB/T 14849.1-2020 工业硅化学分析方法第1部分：铁含量的测定现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14849.1-2007《工业硅化学分析方法第1部分：铁含量的测定 1，10一二氮杂菲分光光度法》

GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法第10部分：汞含量的测定原子荧光光谱法现行免费

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GB/T 14849.11-2016 工业硅化学分析方法第11部分：铬含量的测定二苯碳酰二肼分光光度法现行免费

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GB/T 14849.2-2007 工业硅化学分析方法第2部分：铝含量的测定铬天青-S分光光度法现行免费

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GB/T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法第3部分：钙含量的测定现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14849.3-2007《工业硅化学分析方法第3部分：钙含量的测定》

GB/T 14849.4-2014 工业硅化学分析方法第4部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14849.4-2008《工业硅化学分析方法第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量》

GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14849.5-2010《工业硅化学分析方法第5部分：元素含量的测定 X射线荧光光谱法》

GB/T 14849.6-2014 工业硅化学分析方法第6部分：碳含量的测定红外吸收法现行免费

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GB/T 14849.7-2015 工业硅化学分析方法第7部分：磷含量的测定磷钼蓝分光光度法现行免费

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GB/T 14849.8-2015 工业硅化学分析方法第8部分：铜含量的测定原子吸收光谱法现行免费

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GB/T 14849.9-2015 工业硅化学分析方法第9部分：钛含量的测定二安替吡啉甲烷分光光度法现行免费

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GB/T 14850-2020 气体分析词汇现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14850-2008《气体分析词汇》

GB/T 14851-2025 电子特气磷化氢现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14851-2009《电子工业用气体磷化氢》

GB/T 14853.1-2013 橡胶用造粒炭黑第1部分：倾注密度的测定现行免费

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GB/T 14853.2-2016 橡胶用造粒炭黑第2部分: 细粉含量和颗粒磨损量的测定现行免费

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替代关系：代替原 GB/T 14853.2-2006《橡胶用造粒炭黑第2部分：细粉含量和粒子磨损量的测定》

GB/T 14853.4-2013 橡胶用造粒炭黑第4部分：堆积强度的测定现行免费

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GB/T 14853.5-2013 橡胶用造粒炭黑第5部分：颗粒尺寸分布的测定现行免费

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GB/T 14853.6-2013 橡胶用造粒炭黑第6部分：单个颗粒破碎强度的测定现行免费

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