GBT推荐性
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GB/T 5095.2502-2021
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)
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GB/T 5095.2503-2021
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
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GB/T 5095.2504-2021
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延
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GB/T 5095.2505-2021
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗
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GB/T 5095.2506-2020
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动
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GB/T 5095.2507-2021
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)
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GB/T 5095.2509-2020
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰
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GB/T 5095.3-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验
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替代关系:代替原 GB 5095.3-1986《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第三部分:载流容量试验》
GB/T 5095.4-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验
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替代关系:代替原 GB 5095.4-1986《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第四部分:动态应力试验》
GB/T 5095.5-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验
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替代关系:代替原 GB 5095.5-1986《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第五部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验》
GB/T 5095.6-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验
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替代关系:代替原 GB 5095.6-1986《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第六部分:气候试验和锡焊性试验》
GB/T 5095.7-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验
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替代关系:代替原 GB 5095.7-1986《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第七部分:机械操作试验和密封性试验》
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