GBT推荐性
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GB/T 45716.1-2026
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 第1部分:MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验
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GB/T 45717-2025
信息技术 软件测量 软件质量测量 自动化的源代码质量测度
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GB/T 45718-2025
半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿(TDDB)试验
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GB/T 45719-2025
半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验
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GB/T 45720-2025
半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验
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GB/T 45721.1-2025
半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验
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GB/T 45722-2025
半导体器件 恒流电迁移试验
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GB/T 45723-2025
印制电路板测试方法 温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化
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GB/T 45724-2025
遥感卫星的星地数传链路设计方法
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GB/T 45725-2025
农作物可见光-短波红外光谱反射率测量
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GB/T 45726-2025
声学 机器设备发射的高频声功率级测定
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GB/T 45727-2025
工业仪表智能化等级要求与评价方法
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