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GB/T 35003-2018
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
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GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
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GB/T 35005-2018
集成电路倒装焊试验方法
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GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
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GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
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GB/T 35008-2018
串行NOR型快闪存储器接口规范
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GB/T 35009-2018
串行NAND型快闪存储器接口规范
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GB/T 35010.1-2018
半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求
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GB/T 35010.2-2018
半导体芯片产品 第2部分:数据交换格式
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GB/T 35010.3-2018
半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
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GB/T 35010.4-2018
半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要求
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GB/T 35010.5-2018
半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求
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