搜索结果：GB/T 1414-2003（21 条）

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STD GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14146-2021 硅外延层载流子浓度的测试电容-电压法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法腐蚀法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 1414-2013 普通螺纹管路系列现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14148-2011 光学玻璃眼镜片毛坯现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 1414-2003 普通螺纹管路系列已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14148-1993 光学玻璃眼镜片毛坯已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14149-1993 实验室玻璃仪器互换球形磨砂接头现行层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14141-1993 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法千分尺法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法光学投影法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14143-1993 300～900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

STD GB/T 14142-1993 硅外延层晶体完整性检查方法腐蚀法已作废层级：国家标准分类：GB/T（推荐性）暂无电子版资料悬赏

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